如何测量半导体材料的光致发光谱
我目前只知道一种仪器,叫TXRF(全反射X射线荧光)。
其原理是利用X射线激发原子层中的电子逃逸,导致外层电子跃迁释放出特征X射线,这种特征X射线可以被接收器(EDX)探测到,形成能量色散的X射线谱。
其他的就不清楚了,X射线荧光仪都是用这个原理。
还有一种光谱叫电子发射光谱,通常是用SEM得到的。
其原理是利用X射线激发原子层中的电子逃逸,导致外层电子跃迁释放出特征X射线,这种特征X射线可以被接收器(EDX)探测到,形成能量色散的X射线谱。
其他的就不清楚了,X射线荧光仪都是用这个原理。
还有一种光谱叫电子发射光谱,通常是用SEM得到的。